蔡司三坐標三維掃描儀等設備將亮相深圳CIOE

 　　作為全球光學和光電領域的先鋒，蔡司的質量檢測方案正在不同的應用場景遍地開花——從硬件到軟件，從單機到集成。在即將開幕的中國國際光電博覽會上，蔡司就將展現“面向光學、電子器件的光學系統復合式質量解決方案，顯微分析質量解決方案，三維光學掃描質量解決方案”等。

　　蔡司敬請您蒞臨我們的展位：5B55

　　時 間：2023年9月6 - 8日

　　地 點：深圳國際會展中心(寶安新館)

　　此外，展會期間(2023.9.6下午2點，蔡司CIOE展位)，深圳市計量質量檢測研究院還將聯合蔡司工業質量解決方案發布超精密測量實驗室�，F場，觀眾可以近距離VR暢游超精密測量實驗室，感受超高精度坐標測量機的科技之美，同時可以現場預約超精密測量實驗室的現場參觀與免費試測。

　　本屆CIOE上，蔡司的這些黑科技不要錯過：

　　應用案例

　　鏡筒黑料質量解決方案

　　+推薦方案：

　　蔡司三坐標ZEISS CONTURA 7106+VAST XT gold

　　+應用挑戰：

　　鏡筒黑料檢測要求非常嚴格，公差往往在0.001mm ~ 0.003mm，涉及直徑及同軸度測量，同時測量元素窄小，不易接近。CONTURA配置VAST XT gold主動式測頭可實現鏡筒黑料的高精度檢測同時保證良好的重復性需求，主動式測頭測力調整范圍在 50-1000mN，可實現低測力測量需求，避免微小測針的折損和劃傷工件。

　　應用案例

　　PCB表面貼裝元器件 顯微分析質量解決方案

　　+推薦方案：

　　共聚焦顯微鏡 | ZEISS Smartproof 5

　　應用挑戰：

　　失效分析;盲孔深度;鍍層高度;需從表面直接測量等。

　　應用案例

　　面向注塑殼體及模具

　　+推薦方案：

　　藍光三維光學掃描 | ZEISS ATOS Q

　　應用挑戰：

　　• 復雜結構 / 不規則形狀 / 快速數據采集 / 逆向設計

　　• 偏差比對 / 缺陷分析 / 批量檢測 / 趨勢分析

　　• 砂芯檢測 / 模具檢測/調整 /模具修復 / 數據備份

　　應用案例

　　汽車零部件高分辨率掃描檢測

　　+推薦方案：

　　CT無損檢測 | ZEISS METROTOM

　　應用挑戰：

　　如何高效發現汽車車燈零部件內部缺陷與尺寸特征是否滿足設計要求，方便直觀分析內部結構以及裝配間隙等特征 ，內部隱藏尺寸結構檢測，關鍵部位尺寸在裝配過程中是否發生變化。

　　其他更多質量檢測方案

　　快速靈活的尺寸檢測

　　+推薦方案：

　　手持激光三維光學掃描 | ZEISS T-SCAN hawk 2

　　應用挑戰：

　　面向模型復制、批量檢測、3D打印等。向導式遠端工作流程、精細的數據細節、批量化數據處理、逆向設計等。